基于透射偏折术的倍频晶体‐透镜系统波前像差测量
摘要
终端光学组件在惯性约束聚变装置中具有传输激光和转换频率的重要功能，其系统设计和性能直接关系到激光频率转换以及最终打靶的效果。为确保系统正常运行，需要对终端光学组件进行检测。目前，波前像差测量技术尚未被用于终端系统评估。为了实现终端光学组件系统的波前像差测量，参考了实际的终端光学系统，重点研究了由倍频晶体和聚焦透镜构成的光学系统，并提出了一种结合透射偏折术和晶体双折射追迹的方法，用于测量倍频晶体-透镜系统的波前像差。在该方法中，利用矢量折射定律推导了晶体双折射正、逆追迹过程和出射光束偏折角的计算公式，结合透射偏折术的系统测量原理，得到了入射光束经过终端光学组件后o光和e光畸变波前的重建方法。为验证所提方法的可行性，在计算机中建立了透射偏折术系统并进行了数值模拟，结果表明系统正、逆光线追迹模型计算的波前像差结果相近。实验测量得到的倍频晶体和聚焦透镜构成的光学系统的o光波前像差均方根（RMS）为128.4 nm，峰谷值（PV）为653.0 nm，e光波前像差RMS为143.5 nm，PV为697.3 nm，该结果与数值模拟结果较为一致，表明利用所提方法在线测量终端光学组件o/e光波前像差具有可行性。
引用本文（GB/T 7714）
冯雨 Feng Yu, Ruiyang Wang, 李大海 Li Dahai, 等. 基于透射偏折术的倍频晶体‐透镜系统波前像差测量[J]. Chinese Journal of Lasers, 2025.
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