分焦面偏振探测器的串扰研究
摘要
分焦面偏振探测器像素间的串扰会影响偏振透射率曲线，从而限制探测器的偏振精度和空间分辨率的进一步提升。探测器钝化层和其中的微结构带来的光学串扰以及衬底层中的电学串扰对分焦面偏振探测器的影响被长期忽略。围绕这个问题开展了相关研究：半定量地分析了图像传感器中串扰对消光比的影响；基于聚焦离子束直写技术制备了分焦面偏振探测器；搭建了线光源线偏振测试系统，并对串扰进行了量化测量；设计了可使电学消光比大幅提升的光电隔离沟道。研究结果不仅可以用于分焦面偏振探测器的设计，同时也为超表面与探测器的集成提供了参考。未来将以更真实的物理模型和探测器参数，定量地研究光电隔离沟道对探测器的串扰和性能的影响。
引用本文（GB/T 7714）
聂安然 Nie Anran, 裘桢炜 Qiu Zhenwei, 孙晓兵 Sun Xiaobing, 等. 分焦面偏振探测器的串扰研究[J]. Acta Optica Sinica, 2025.
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