一种改进型的封装杜瓦内红外探测器暗电流测试方法
摘要
天文用焦平面红外探测器一般安装在深低温制冷的杜瓦内。对探测器暗电流进行测试需要屏蔽所有的背景红外辐射，因此如果不对杜瓦结构进行改装，测量得到的暗电流中一般会含有杜瓦窗口的背景辐射。本文介绍了一种不改装杜瓦，只通过调节杜瓦窗口温度就能精确测量探测器暗电流的改进方法。通过对一款512×640规格的近红外焦平面探测器进行测试显示，使用改进方法测到的暗电流比包含杜瓦窗口背景辐射的常规方法低10 e-/s，基本排除了窗口的背景辐射，得到了更精确的暗电流测量值。这种改进的测量手段可以在实际使用中作为快速评价探测器暗电流性能的方法。
引用本文（GB/T 7714）
张晏铭 Zhang Yanming, 文新荣 Wen Xinrong, 范文龙 Fan Wenlong, 等. 一种改进型的封装杜瓦内红外探测器暗电流测试方法[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2025.
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