首页 / 资料库 / 文献详情
X射线纳米分辨立体成像及其在芯片表征中的应用
刘聪 Liu Cong、王飞翔 Wang Feixiang、陶芬 Tao Fen、杜国浩 Du Guohao、张玲 Zhang Ling、汪俊 Wang Jun、邓彪 Deng Biao
2024Acta Optica SinicaEngineering被引 5
摘要
该文献暂无收录摘要。
引用本文（GB/T 7714）
刘聪 Liu Cong, 王飞翔 Wang Feixiang, 陶芬 Tao Fen, 等. X射线纳米分辨立体成像及其在芯片表征中的应用[J]. Acta Optica Sinica, 2024.
DOI：https://doi.org/10.3788/aos240575
本站仅收录题录与摘要供学习参考，全文版权归属出版方；如有侵权请联系我们删除。