基于相移条纹分析的相位误差补偿技术发展综述（特邀）
摘要
结构光三维测量技术由于精度高、非接触等优点在传统制造业中得到了广泛的关注和应用。智能制造、人工智能等新兴领域的高速发展对如何高效获取高精度三维数据源提出了更高的要求。应用于三维测量系统的相位误差补偿技术作为实现高精度结构光测量方法的重要步骤，对测量结果的获取精度和效率起着关键性作用。首先简要介绍相移测量轮廓术的基本原理和不同误差来源导致的相位误差形式，随后分类讨论各个误差类型的补偿方法、优化方向及适用场景，最后总结基于相移条纹分析的相位误差补偿技术所面临的挑战及潜在的发展趋势。
引用本文（GB/T 7714）
李乐阳 Li Yueyang, 吴周杰 Wu Zhoujie, 张启灿 Zhang Qican. 基于相移条纹分析的相位误差补偿技术发展综述（特邀）[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2024.
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