Systematic characterization for RF small-signal parameter extraction of 28 nm FDSOI MOSFETs up to 110 GHz

Xuejing Yang、Xuejing Yang、Seungkyeong Lee、Songcheol Hong、Kyounghoon Yang

2023Microelectronics JournalEngineering被引 4

摘要

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引用本文（GB/T 7714）

Xuejing Yang, Xuejing Yang, Seungkyeong Lee, 等. Systematic characterization for RF small-signal parameter extraction of 28 nm FDSOI MOSFETs up to 110 GHz[J]. Microelectronics Journal, 2023.

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DOI：https://doi.org/10.1016/j.mejo.2023.105862

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