首页 / 资料库 / 文献详情

基于光学三角法的芯片凸点高度测量

王棚 WANG Peng孟繁昌 MENG Fanchang张滋黎 ZHANG Zili王德钊 WANG Dezhao王珊 WANG Shan姚恩涛 YAO Entao王磊 WANG Lei叶瑞乾 YE Ruiqian

2022ACTA PHOTONICA SINICAEngineering被引 4

出版方页面 →

摘要

该文献暂无收录摘要。

引用本文(GB/T 7714)

王棚 WANG Peng, 孟繁昌 MENG Fanchang, 张滋黎 ZHANG Zili, 等. 基于光学三角法的芯片凸点高度测量[J]. ACTA PHOTONICA SINICA, 2022.

引文网络

参考文献与被引分析加载中…

DOI:https://doi.org/10.3788/gzxb20225105.0512001

本站仅收录题录与摘要供学习参考,全文版权归属出版方;如有侵权请联系我们删除。