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质子激发X射线分析测定环境样品中的痕量元素

民乾 李、廷文 荣、康龙 盛、志祥 陈、学朋 汪、柏康 金、俊法 秦

1979Chinese Science Bulletin (Chinese Version)Physics and Astronomy被引 2开放获取

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摘要

质子激发X射线分析(PIXE)是七十年代发展起来的新的元素分析工具<sup>[1]</sup>. 它的特点是以几兆电子伏质子束激发X射线,并以Si(Li)半导体探测器进行X射线能谱测量. 由于质子激发X射线的截面较高,而其韧致辐射又很低,故具有较高的灵敏度;Si(Li)探测器有较好的能量分辨率和较高的探测效率,因此PIXE可同时进行多元素的分析. 所以,PIXE能发展为一种快速、灵敏和多元素的分析方法.

引用本文（GB/T 7714）

民乾 李, 廷文 荣, 康龙 盛, 等. 质子激发X射线分析测定环境样品中的痕量元素[J]. Chinese Science Bulletin (Chinese Version), 1979.

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DOI：https://doi.org/10.1360/csb1979-24-1-19

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