Ce:KNSBN晶体中的光扇效应及其图像存储
摘要
采用非同时读出条件下的两波耦合实验装置, 以单束光入射Ce:KNSBN光折变晶体, 研究了入射光强度和光入射角对Ce:KNSBN晶体中光扇效应的影响. 研究发现, 光扇效应存在明显的入射光强度阈值特性, 入射光强度阈值为38.2 mW/cm<SUP>2</SUP>; 对应相同的入射光强度, 光入射角<I>θ</I> 为15°时稳态光扇强度<I>I<SUB>fsat</SUB></I>最强. 研究了入射光调制对晶体中光扇噪声及体全息存储的影响, 入射光调制抑制了光扇噪声对Ce:KNSBN晶体两波耦合及体全息存储的影响, 使得再现图像质量得到了明显改善.
引用本文(GB/T 7714)
盼来 李, 立斌 庞, 庆林 郭, 等. Ce:KNSBN晶体中的光扇效应及其图像存储[J]. Chinese Science Bulletin (Chinese Version), 2007.
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