实用BiCMOS倒相器可测性设计
摘要
BiCMOS电路由于具有Bipolar和CMOS的优点,即高集成度、大驱动能力和高速等优点,而且其工艺与CMOS工艺兼容,在高速和数模混合的集成电路中得到了广泛的应用.但随着集成电路规模的增大,尤其是BiCMOS电路本身的复杂性,测试时间、测试图形生成时间及所需数据量均增加很快,测试成本随之增高,因而研究BiCMOS电路的可测性设计方法是很有必要的.目前,关于BiCMOS电路的可测性设计方法还不多见.Salama与Elmasry提出的方法虽然能够测出电路的常见故障,但这种方法占用芯片面积大,故障覆盖率不高,当电路规模很大时难以使用.
引用本文（GB/T 7714）
增钰 郑, 波 叶. 实用BiCMOS倒相器可测性设计[J]. Chinese Science Bulletin (Chinese Version), 1995.
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