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350—1200eV氖原子的电子散射全截面测量装置及结果

炳忻 杨

1993Chinese Science Bulletin (Chinese Version)Materials Science被引 1开放获取

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摘要

进入80年代以来,中能区的电子散射全截面的精确测量引起了广泛的兴趣.Zecca 等人、Garcia 等人、Wagenaar 等人以及 Kauppila 等人相继建立起了自己的电子散射全截面测量装置,但至今在800eV 以上能区的数据仍然很少并且相互差异较大,Zecca 等人和Kauppila 等人采用的还是传统的 Ramsauer 技术,在高能区由于角分辨较差,其全截面数据有相当大的系统误差.因此,对高于800eV 能区的电子散射全截面的精确实验测量仍然很

引用本文(GB/T 7714)

炳忻 杨. 350—1200eV氖原子的电子散射全截面测量装置及结果[J]. Chinese Science Bulletin (Chinese Version), 1993.

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DOI:https://doi.org/10.1360/csb1993-38-22-2038

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