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Insecurity by Design： Today＇s loT Device Security Problem

Maire、O’Neill

2016中国工程科学：英文版Computer Science被引 1

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引用本文（GB/T 7714）

Maire, O’Neill. Insecurity by Design： Today＇s loT Device Security Problem[J]. 中国工程科学：英文版, 2016.

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