Step-stress Accelerated Degradation Test Modeling and Statistical Analysis Methods

Chen、Wenhua、Liu、Juan、Gao、Liang Liang、PAN Pan、Jun Jun

2013中国机械工程学报：英文版Engineering被引 1

摘要

以便在存储时期以内在高度可靠、长寿的产品的存储可靠性上得到一个快速的评价，有产品的大量可靠性信息的加速的降级测试数据被采用。当它要求为测试的一种大样品尺寸和长时间，进行经常压力的加速的降级测试(CSADT ) 通常是很昂贵的。克服这个问题，在当模特儿上执行研究是必要的，步压力的统计分析方法加速降级测试(SSADT ) 。作为目标拿电的接头，研究为 SSADT 在统计模型和评价方法上被进行。根据混合效果降级路径模型，为电的接头的 SSADT 的统计模型被介绍，为 SSADT 数据的最大的可能性的方法基于混合效果降级模型被建议。温度应力加速的 SSADT 被进行到电的接头的 Y11X-1419 类型，并且存储可靠性与 SSADT 数据被估计。与从加速的生活测试获得的结果相比，为电的接头的 32 年的存储时期的可靠性评价从 SSADT 获得了数据仅仅有 0.869% 的差别，它验证降级模型的精确性和提出的测试数据统计数值分析方法的可行性。

引用本文（GB/T 7714）

Chen, Wenhua, Liu, 等. Step-stress Accelerated Degradation Test Modeling and Statistical Analysis Methods[J]. 中国机械工程学报：英文版, 2013.

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