Application of the DEM to screening process： a 3D simulation
摘要
分离元素方法(DEM ) 广泛地被用来模仿在粒子之间的显微镜的相互作用。当自己为粒子考虑动议的法律时，屏蔽是一个深深地复杂的过程。在这份报纸，为用 DEM 屏蔽过程的一个粒子的学习的一个数字模型被介绍。特殊注意对当模特儿允许粒子通过，或反弹的一幅颤动的屏幕被给予，当接近屏幕表面时。有关他们联系到屏蔽效率的屏幕长度和颤动的频率的推论被学习。结论是：沿着屏幕长度屏蔽效率的三维的模拟跟随指数的分布；当筛在某个频率范围上颤动时，屏蔽效率是稳定的；并且，更高的颤动频率能改进屏蔽机器的处理能力。
引用本文（GB/T 7714）
Chen, Yanhua, Tong, 等. Application of the DEM to screening process： a 3D simulation[J]. Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Sunyatseni, 2009.
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