A New Method for the Detections of Multiple Faults Using Binary Decision Diagrams

Pan、Zhongliang、Chen、Ling、Zhang、Guang-zhao

2006Acta Scientiarum Naturalium Universitatis SunyatseniEngineering被引 1

摘要

不断地与集成电路的复杂性正在增加，在电路的一个本地缺点可以引起多重差错。有一个多重差错的一个数字电路的行为可以显著地不同于一个单个差错的。为在数字电路的多重差错的察觉的一个新方法在这篇论文被介绍，方法基于二进制决定图(BDD ) 。首先，为正常电路的 BDD 和有缺点的电路分别地被造。第二，测试 BDD 被 BDD 的 XOR 操作获得对应于正常电路和有缺点的电路。在测试 BDD，导致标记 1 的叶节点的每项输入任务是多重差错的测试向量。因此，多重差错的测试集合被在测试 BDD 寻找输入任务的类型产生。一些数字电路上的试验性的结果显示出在这篇论文介绍的途径的可行性。

引用本文（GB/T 7714）

Pan, Zhongliang, Chen, 等. A New Method for the Detections of Multiple Faults Using Binary Decision Diagrams[J]. Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Sunyatseni, 2006.

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