Li<sub>2</sub>O—K<sub>2</sub>O—Al<sub>2</sub>O<sup><sub><sub>3</sub></sub></sup>—SiO<sub>2</sub>系统微晶玻璃内耗的研究 (一)晶化前
摘要
测量玻璃的内耗是研究玻璃滞弹性行为的一种方法. 由于它在研究玻璃热历史的影响、玻璃中离子或原子团的移动、某些阳离子在玻璃中配位的变化,以及玻璃晶化过程的机构等方面都有一定的作用,近来利用这一方法作为探讨玻璃结构的工具已日益增多. 关于在含碱硅酸盐玻璃中,在室温附近(低温峯),100到260℃之间(中温峯),以及在300℃附近(高温峯)所出现的内耗峯已进行了不少的研究. 一般认为,低温峯是由于碱金属离子的扩散所引起,中温峯是非桥氧离子的扩散所引起,关于高温峯的机构到目前尚没有比较肯定的解释.
引用本文(GB/T 7714)
家治 李, 惠民 陈, 傑耀 骆. Li<sub>2</sub>O—K<sub>2</sub>O—Al<sub>2</sub>O<sup><sub><sub>3</sub></sub></sup>—SiO<sub>2</sub>系统微晶玻璃内耗的研究 (一)晶化前[J]. Chinese Science Bulletin (Chinese Version), 1964.
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