A Method for Surface Roughness Parameter Estimation in Passive Microwave Remote Sensing
摘要
表面粗糙参数为在被动微波遥感检索土壤潮湿是一个重要因素和障碍。二个统计参数,根平均数平方(RMS ) 高度(s) 和关联长度(l) ,为描述随机不平的表面的粗糙被设计。传统的方法测量的粗糙参数是频率,土壤潮湿和土壤异质和就随机的表面的几何粗糙的独立。这几何粗糙不能充分由地球表面解释散布热放射。在几何粗糙和综合粗糙之间的关系(包含几何粗糙和绝缘的粗糙) 被实验系数连接。鉴于这个问题,这份报纸为在不同频率从辐射计采样数据估计综合表面粗糙论述一个方法,它主要基于在力量之间的更粉的关系光谱密度分发和空间自相关工作。我们能由这个方法在不同频率获得综合表面粗糙。除几何粗糙以外,这综合表面粗糙不仅包含绝缘的粗糙而且包括频率依赖。与 Q/H 模型结合了联合系数的极化能也为 H 和 V 极化被获得。同时,模仿的数字结果证明有 0.1 K 的敏感的那辐射计能为一样的不平的表面与频率区分不同表面粗糙和粗糙的变化。这为理论上估计表面粗糙证实辐射计采样方法的可行性。这个方法克服绝缘的粗糙测量的问题到某程度和罐头在能比几何粗糙更好提供土壤潮湿倒置的一个微波象素以内完成综合表面粗糙。
引用本文(GB/T 7714)
Zheng, Xingming, Zhao, 等. A Method for Surface Roughness Parameter Estimation in Passive Microwave Remote Sensing[J]. 中国地理科学:英文版, 2010.
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