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SF 6 中绝缘子表面电荷积聚及其对直流GIL闪络特性的影响
杭玉桦、李兴文、原帅、贾申利
2015高电压技术Engineering被引 3
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引用本文（GB/T 7714）
杭玉桦, 李兴文, 原帅, 等. SF 6 中绝缘子表面电荷积聚及其对直流GIL闪络特性的影响[J]. 高电压技术, 2015.
DOI：https://doi.org/10.13336/j.1003-6520.hve.2015.05.009
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