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基于一氧化碳、二氧化碳和氧气分子吸附为探针的碳化钼、碳化钨、氮化钼和氮化钨的表面化学性质：密度泛函理论分析
张天雨 叶静云、GE Qingfeng
2017Journal of ElectrochemistryEngineering被引 1
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引用本文（GB/T 7714）
张天雨 叶静云, GE Qingfeng. 基于一氧化碳、二氧化碳和氧气分子吸附为探针的碳化钼、碳化钨、氮化钼和氮化钨的表面化学性质：密度泛函理论分析[J]. Journal of Electrochemistry, 2017.
DOI：https://doi.org/10.13208/j.electrochem.170141
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