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粒子線励起X線分析法(PIXE)の現状と将来

宇田 応之

1992応用物理Engineering被引 1

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引用本文（GB/T 7714）

宇田 応之. 粒子線励起X線分析法(PIXE)の現状と将来[J]. 応用物理, 1992.

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DOI：https://doi.org/10.11470/oubutsu1932.61.672

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