首页 / 资料库 / 文献详情
Resistive switching characteristics of Ti/ZrO2/Pt RRAM device
雷晓艺、刘红侠、高海霞、杨哈妮、王国明、龙世兵、马晓华、Ming Liu
2014中国物理B:英文版Engineering被引 1
摘要
该文献暂无收录摘要。
引用本文(GB/T 7714)
雷晓艺, 刘红侠, 高海霞, 等. Resistive switching characteristics of Ti/ZrO2/Pt RRAM device[J]. 中国物理B:英文版, 2014.
本站仅收录题录与摘要供学习参考,全文版权归属出版方;如有侵权请联系我们删除。