一种新的粒度仪:BI—XDC
摘要
l正g 由杜帮公司和布鲁克海文公司联合研制的X光扫描蝶式离心粒度仪(BIXDC),将颗粒粒度和粒度分布测量技术提高到一种新的水平。本文就该仪器的原理、设计特点和测量结果作一概述和评价。 1.前言在颗粒技术中,颗粒粒度的微小变化能够显著影响材料的性能和质量,所以粒度和粒度分布一向是颗粒物料的重要指标。在化工、冶金、材料、特种陶瓷、涂料等许多研究和生产领域中,大量的亚微米级颗粒正在迅速发展,人们需要性能更好的粒度测量仪器。由杜帮公司和布鲁克海文公司联合研制的BI
引用本文(GB/T 7714)
马兴华, 黄滔, 尉俐, 等. 一种新的粒度仪:BI—XDC[J]. 现代科学仪器, 1992.
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