基于March X算法的SRAM BIST的设计

2005微电子学与计算机Engineering被引 0

摘要

针对LS-DSP中嵌入的128kb SRAM模块,讨论了基于March X算法的BIST电路的设计.根据SRAM的故障模型和测试算法的故障覆盖率,讨论了测试算法的选择、数据背景的产生:完成了基于March X算法的BIST电路的设计.128kb SRAM BIST电路的规模约为2000门,仅占存储器面积的1.2%,故障覆盖率高于80%.

引用本文（GB/T 7714）

冯国臣, 沈绪榜, 刘春燕. 基于March X算法的SRAM BIST的设计[J]. 微电子学与计算机, 2005.

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