氧缺失对Nd0．7Sr0-3MnO3外延膜结构和输运性的影响
摘要
不同厚度的NdO7Sr0.3MnO3（NSMO）外延膜是由脉冲激光沉积生长在（LaAlO3）0.3（Sr2AlTaO6）0.7（LSAT）（001）衬底上的。X射线衍射（XRD）和电阻率测量结果显示，沉积氧压为21．333Pa时薄膜C轴参数随着膜厚的减小而增加，同时金属一绝缘体的转变温度TP下降，电阻率增大；另一组生长在27．999Pa氧压下，厚度为120nm的薄膜单胞体积随着退火温度的升高而增大，同时电阻率升高，TP下降。上述结果归因于低的原位沉积氧压和真空退火引起的氧缺失导致n（Mn^3＋）／n（Mn^4＋）的增大以及MnO6八面体的畸变。结果表明，对超薄的应变薄膜，要获得较高的酢值，较高的沉积氧压是必需的，同时应仔细考虑真空退火对薄膜性能的影响。
引用本文（GB/T 7714）
孟影, 金绍维, 高娟, 等. 氧缺失对Nd0．7Sr0-3MnO3外延膜结构和输运性的影响[J]. 材料导报, 2012.
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