迁移增强外延GaAs／Al／GaAs材料生长及其俄歇分析
摘要
在配有液Ｎ２冷却Ａｓ快门的分子束外延设备中利用迁殉增强外延（ＭＥＥ）方法于低温下生长了ＧａＡｓ／Ａｌ／ＧａＡｓ结构材料。俄歇测量结果表明：用ＭＥＥ方法生长 材料中Ａｌ和ＧａＡｓ之间的互扩散大大减小，在５００℃热处理后也没有引起多大的互扩散。我们还发现在高指数ＧａＡｓ（１１３）Ｂ面上用ＭＥＥ方法生长ＧａＡｓ薄膜效果更好。
引用本文（GB/T 7714）
钟战天, 崔玉德. 迁移增强外延GaAs／Al／GaAs材料生长及其俄歇分析[J]. Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Sunyatseni, 1996.
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