电致冷高分辨率 Si(Li)能谱仪

1998核电子学与探测技术Engineering被引 0

摘要

电致冷高分辨率Ｓｉ（Ｌｉ）Ｘ射线能谱分析仪采用电阻反馈前置放大器;灵敏面积为２８ｍｍ２Ｓｉ（Ｌｉ）探测器;对５５Ｆｅ５．９ｋｅＶＸ射线;能量分辨率［ＦＷＨＭ］为７００ｅＶ左右。对探测器在不同温度下随偏压的变化、致冷功率与温度关系、冷却温度与时间关系进行了研究。

沈浩元, 浦世节, 张光明. 电致冷高分辨率 Si(Li)能谱仪[J]. 核电子学与探测技术, 1998.

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