溶胶-凝胶法制备Gd2SiWO8：Dy薄膜及其发光性能
摘要
采用溶胶-凝胶法在SiO2基底上制备了Gd2SiWO8：Dy薄膜，用X射线衍射（XRD）、原子力显微镜（AFM）和荧光光谱仪对所得到的发光薄膜进行了表征。XRD的结果表明薄膜在1000℃完全结晶，并且与标准卡片符合得很好。AFM的结果表明薄膜表面均匀，没有裂痕，粒子致密，平均尺寸为120nm，薄膜的厚度为660nm。WO4^2-的吸收在280nm处，以此为激发波长得到在Gd2SiWO8薄膜基质中，Dy^3＋离子表现出它的特征黄光发射，位于483nm和575nm，分别归属于Dy^3＋的^4F9／2-^6H15／2和^4F9／2-^6H13／2跃迁。
引用本文（GB/T 7714）
韩秀梅, 林君, Zhe Li, 等. 溶胶-凝胶法制备Gd2SiWO8：Dy薄膜及其发光性能[J]. 稀有金属材料与工程, 2007.
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