自组装p—n异质膜I—V特性随时间变化研究
摘要
以P型导电高分子烷基聚噻吩（PAT-6）和n型导电高分子聚喹啉（PQ）共混液为原料通过浇注方式自组装形成组成梯度膜，即形成p-n异质膜，对该异质膜I—V特性进行检测，呈现二极管I—V特性，反复测量，该特性出现劣化现象，而随时间推移该异质膜的二极管特性具有可恢复性。
引用本文（GB/T 7714）
谭乃迪, 张延林. 自组装p—n异质膜I—V特性随时间变化研究[J]. Acta Scientiarum Naturalium Universitatis Sunyatseni, 2013.
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