电子物理学——KAF-4301ECCD在低温下微光成像特性的实验研究
摘要
介绍了实验的原理和方法；重点介绍了在低温下KAF．4301ECCD的成像特性——量子效率（QE）、电荷转移效率（CTE）、读出噪声、暗电流和满阱等的测试结果．实验结果显示，随CCD工作温度降低并超过其最小标称值后，虽然暗流则明显减小，但CTE性能快速变差．从理论上对所得的结果进行了简短的分析和讨论．分析了该型号CCD在微光成像方面的应用前景．图2表3参11
引用本文（GB/T 7714）
李彬华, 魏名智, 叶彬浔, 等. 电子物理学——KAF-4301ECCD在低温下微光成像特性的实验研究[J]. 中国学术期刊文摘, 2006.
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