XPS和TOF—SIMS在硬盘驱动器（HDD）磁头表面微污染分析中的应用
摘要
XPS和TOF-SIMS表面分析仪器联用分析磁头臂焊接位表面有机微污染物成分，找出 污染物的来源；XPS能够提供污染物中元素组成及价态信息，而TOF-SIMS能够提供其分子信息。试验证明两者联用是分析表面有机微污染物强有力的手段。
引用本文（GB/T 7714）
刘义为, Moulder, Vlasak, 等. XPS和TOF—SIMS在硬盘驱动器（HDD）磁头表面微污染分析中的应用[J]. 理化检验：化学分册, 2001.
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