基体分离/MC-ICP-MS测定树皮表层^235U/^238U同位素比率
摘要
分别从日本广岛和京都采集了香樟树（Cinnamomum camphora）树皮样品共12份,用X射线能谱仪研究了树皮表层基体元素组成,并用扫描电镜观察了树皮表层微观形貌。将树皮表层样品进行干灰化法处理后,采用DOWEX 1-X8型阴离子交换树脂分离基体元素,然后用多接收器电感耦合等离子体质谱仪（MC-ICP-MS）测定了树皮表层235U/238U同位素比率。研究结果表明：树皮表层主要基体元素为Al,Ca,Fe,K,Mg,Si和C,O,S;采用不同浓度硝酸淋洗DOWEX 1-X8型阴离子交换树脂可实现树皮表层痕量U与基体元素的有效分离。与京都树皮表层相比,广岛树皮表层不仅U含量显著偏高（P=0.012）,而且部分样品235U/238U同位素比率亦略高于其自然丰度比。
引用本文（GB/T 7714）
王小平, 张继龙. 基体分离/MC-ICP-MS测定树皮表层^235U/^238U同位素比率[J]. 光谱学与光谱分析, 2007.
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